产品详情
简单介绍:
天星ED400涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。天星ED400涡流测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
详情介绍:
天星ED400涡流测厚仪
技术参数 |
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测量范围: | 0~500 μm | |
测量精度: | 0~50 μm:±1 μm; | |
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50~500 μm:±2% | |
分辨率: | 0~50 μm:0.1 μm; | |
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50~500 μm:1 μm; | |
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0~500 μm:1 μm(可选) | |
使用温度: | 5~45℃ | |
外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm |
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重量: | 280 g |
标准配置:仪器主机(含探头),校准基体,校准片,说明书,保修卡,合格证,仪器箱,第三方计量证书(校准片)。